Request a document copy: NGHIÊN CỨU ẢNH HƯỞNG CỦA DIỆN TÍCH BỀ MẶT DẪN ĐIỆN VÀ CÁC LỖI XẾP CHỒNG ĐẾN ĐẶC TÍNH CỦA ĐIỐT PiN 4H-SIC = ELECTRICAL IMPACT CHARACTERIZATION OF ANODE ACTIVE AREA AND STACKING-FAULTS IN 6.5 KV 4H-SIC PIN DIODES
Vui lòng nhập vào phần email 1 địa chỉ email hợp lệ (VD: buianh.tvtt@gmail.com). Thư viện Dspace sẽ gửi bản sao tài liệu tới địa chỉ email của bạn nếu tài liệu không chứa các nội dung cần được bảo mật hay giới hạn đối tượng người dùng
