Please use this identifier to cite or link to this item:
http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/27696
Title: | NGHIÊN CỨU ẢNH HƯỞNG CỦA DIỆN TÍCH BỀ MẶT DẪN ĐIỆN VÀ CÁC LỖI XẾP CHỒNG ĐẾN ĐẶC TÍNH CỦA ĐIỐT PiN 4H-SIC = ELECTRICAL IMPACT CHARACTERIZATION OF ANODE ACTIVE AREA AND STACKING-FAULTS IN 6.5 KV 4H-SIC PIN DIODES |
Authors: | Nguyễn, Mạnh Quân Cài, đặtNguyễn Duy Minh |
Keywords: | Tạp chí Khoa học & Công nghệ |
Issue Date: | 2020 |
Series/Report no.: | Tạp chí Khoa học & Công nghệ - Đại học Công nghiệp Hà Nội - 2020 - no.56 |
URI: | https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=301138 http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/27696 |
Appears in Collections: | Báo - Tạp chí |
Files in This Item:
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.