Please use this identifier to cite or link to this item:
http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/27696
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Nguyễn, Mạnh Quân | |
dc.contributor.author | Cài, đặtNguyễn Duy Minh | |
dc.date.accessioned | 2023-12-12T03:04:27Z | - |
dc.date.available | 2023-12-12T03:04:27Z | - |
dc.date.issued | 2020 | |
dc.identifier.uri | https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=301138 | en |
dc.identifier.uri | http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/27696 | - |
dc.language.iso | vi | en |
dc.relation.ispartofseries | Tạp chí Khoa học & Công nghệ - Đại học Công nghiệp Hà Nội - 2020 - no.56 | en |
dc.subject | Tạp chí Khoa học & Công nghệ | en |
dc.title | NGHIÊN CỨU ẢNH HƯỞNG CỦA DIỆN TÍCH BỀ MẶT DẪN ĐIỆN VÀ CÁC LỖI XẾP CHỒNG ĐẾN ĐẶC TÍNH CỦA ĐIỐT PiN 4H-SIC = ELECTRICAL IMPACT CHARACTERIZATION OF ANODE ACTIVE AREA AND STACKING-FAULTS IN 6.5 KV 4H-SIC PIN DIODES | en |
dc.type | Article | en |
Appears in Collections: | Báo - Tạp chí |
Files in This Item:
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.