Please use this identifier to cite or link to this item: http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/21002
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorNguyễn, Thúy Vân
dc.contributor.authorPhạm, Thanh Bình
dc.contributor.authorVũ, Đức Chính
dc.contributor.authorNgô, Thị Thu Hiền
dc.contributor.authorĐỗ, Thùy Chi
dc.contributor.authorHoàng, Thị Hồng Cẩm
dc.contributor.authorNguyễn, Văn Ân
dc.contributor.authorBùi, Huy
dc.contributor.authorPhạm, Văn Hội
dc.contributor.authorPhạm, Thanh Sơn
dc.date.accessioned2023-12-11T08:07:59Z-
dc.date.available2023-12-11T08:07:59Z-
dc.date.issued2020
dc.identifier.urihttps://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=307580en
dc.identifier.urihttp://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/21002-
dc.language.isovien
dc.relation.ispartofseriesTạp chí Khoa học và công nghệ - Trường Đại học Khoa học, Đại học Huế - 2020 - no.1 - tr.75-88 - ISSN.2354-0850en
dc.subjectTạp chí Khoa học và công nghệen
dc.titleCảm biến dựa trên đầu dò SERS sử dụng silic xốp phủ nano kim loại bạc để xác định nồng độ thấp các phân tửen
dc.typeArticleen
Appears in Collections:Báo - Tạp chí

Files in This Item:
Thumbnail

  • File : CVv470V16S12020075.pdf
  • Size : 1,37 MB
  • Format : Adobe PDF


  • Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.