Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này: http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/13905
Nhan đề: STUDY OF ELECTRICAL PROPERTIES OF ELECTRON DOPED Ge FILM USING GaP AND Sb SOLID SOURCES BY MOLECULAR BEAM EPITAXY METHOD = NGHIÊN CỨU TÍNH CHẤT ĐIỆN CỦA MÀNG Ge PHA TẠP ĐIỆN TỬ TỪ NGUỒN RẮN GaP VÀ Sb BẰNG PHƯƠNG PHÁP EPITAXY CHÙM PHÂN TỬ
Tác giả: Lương, Thị Kim Phượng
Từ khoá: Tạp chí Khoa học và Công nghệ - Đại học Thái Nguyên
Năm xuất bản: 2019
Tùng thư/Số báo cáo: Tạp chí Khoa học và Công nghệ - Đại học Thái Nguyên - 2019 - no.11
Định danh: https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=295941
http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/13905
Bộ sưu tập: Báo - Tạp chí

Các tập tin trong tài liệu này:
Tập tin Kích thước Định dạng Đã có tài khoản, vui lòng Đăng nhập
42382-1297-134084-1-10-20190830.pdf214.71 kBAdobe PDF
Hiển thị đầy đủ biểu ghi tài liệu

Các đề xuất từ CORE

Google Scholar TM

Kiểm tra...


Khi sử dụng các tài liệu trong Hệ thống quản lý thông tin nghiên cứu phải tuân thủ Luật bản quyền.